Обозначение: | ГОСТ Р 8.697-2010 |
Обозначение англ: | GOST R 8.697-2010 |
Текущий статус документа: | действует |
Название документа рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа |
Название документа англ.: | State system for ensuring the uniformity of measurements. Interpenar spacings in crystals. Method for measurement by means of a transmission electron microscope |
Дата актуализации текста: | 01.12.2013 |
Дата введения: | 01.09.2010 |
Область применения: | Стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и иных образцах толщиной не более 200 нм с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 10,00 нм в режиме дифракции и в диапазоне линейных размеров от 0,2 до 10,0 нм в режиме изображения. |
Разработан: | ОАО Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума ГУ РАН Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ГОУВПО Московский физико-технический институт (государственный университет) ФГУ Российский научный центр Курчатовский институт
|
Утверждён: | 10.02.2010 Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (11-ст)
|
Издан: | Стандартинформ (2010 г. )
|
Нормативные ссылки: | |